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沖擊檢測(cè)儀器
簡(jiǎn)要描述:
沖擊檢測(cè)儀器還可以用于高、低溫的可靠性環(huán)境模擬試驗(yàn)。對(duì)電子電工、航空航天、汽車(chē)摩托、光電、LED、橡膠、照明、塑膠、金屬、船舶兵器、高等院校、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高、低溫及冷熱循環(huán)變化的情況下,檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)。
沖擊檢測(cè)儀器還可以用于高、低溫的可靠性環(huán)境模擬試驗(yàn)。對(duì)電子電工、航空航天、汽車(chē)摩托、光電、LED、橡膠、照明、塑膠、金屬、船舶兵器、高等院校、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高、低溫及冷熱循環(huán)變化的情況下,檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)。
沖擊檢測(cè)儀器技術(shù)參數(shù):
型號(hào):2AP-TS-27 內(nèi)箱尺寸:300*300*300mm(寬*高*深)
型號(hào):2AP-TS-50 內(nèi)箱尺寸:350*400*350mm(寬*高*深)
型號(hào):2AP-TS-80 內(nèi)箱尺寸:400*500*400mm(寬*高*深)
型號(hào):2AP-TS-150 內(nèi)箱尺寸:500*600*500mm(寬*高*深)
溫度范圍:-40℃~150℃、-55℃~150℃、-65℃~150℃
測(cè)試室溫度范圍:-55℃~+150 ℃ (風(fēng)冷式)
高溫室預(yù)熱溫度范圍:RT~+180℃
升溫時(shí)間:+50℃→+180℃ ≤40min
注:升溫時(shí)間為高溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能
低溫室預(yù)冷溫度范圍:RT~-65℃
降溫時(shí)間:RT~-65℃ ≤90min
注:升溫時(shí)間為高溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能
溫度波動(dòng)度:±0.5℃
溫度偏差:±2.0℃
溫度恢復(fù)時(shí)間:≤5min;轉(zhuǎn)換溫度只需要≤10s(吊籃移動(dòng)時(shí)間:3秒以內(nèi))
電氣控制系統(tǒng):
控制器型號(hào):可編程日本OYO9226S控制器,觸摸屏輸入,根據(jù)客戶要求可任意設(shè)定不同高低溫沖擊溫度點(diǎn),滿足做測(cè)試的不同需求.
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