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    3AP-CJ-80A鋰電池電車電池冷熱沖擊實(shí)驗(yàn)箱

    鋰電池電車電池冷熱沖擊實(shí)驗(yàn)箱適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備。

    更新時(shí)間:2025-07-03
    3AP-CJ-80A高低溫沖擊試驗(yàn)箱銷售公司

    高低溫沖擊試驗(yàn)箱銷售公司適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備。

    更新時(shí)間:2025-07-03
    3AP-CJ-80A手機(jī)電腦芯片冷熱沖擊實(shí)驗(yàn)箱

    手機(jī)電腦芯片冷熱沖擊實(shí)驗(yàn)箱適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備。

    更新時(shí)間:2025-07-03
    3AP-CJ-80APCB線路板冷熱沖擊實(shí)驗(yàn)箱

    PCB線路板冷熱沖擊實(shí)驗(yàn)箱適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備。

    更新時(shí)間:2025-07-03
    3AP-CJ-80A半導(dǎo)體熱轉(zhuǎn)印高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)

    半導(dǎo)體熱轉(zhuǎn)印高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備。

    更新時(shí)間:2025-07-03
    3AP-CJ-80A快速溫變循環(huán)沖擊試驗(yàn)機(jī)

    快速溫變循環(huán)沖擊試驗(yàn)機(jī)用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備。

    更新時(shí)間:2025-07-03
    3AP-CJ-80A實(shí)驗(yàn)室用冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)

    實(shí)驗(yàn)室用冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備。

    更新時(shí)間:2025-07-03
    3AP-CJ-80APCB線路板高低溫沖擊試驗(yàn)箱

    PCB線路板高低溫沖擊試驗(yàn)箱適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備。

    更新時(shí)間:2025-07-03
    3AP-CJ-80A兩箱上冷下熱溫度沖擊試驗(yàn)箱

    兩箱上冷下熱溫度沖擊試驗(yàn)箱適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備。

    更新時(shí)間:2025-07-03
    3AP-CJ-80A學(xué)校用冷熱沖擊試驗(yàn)箱

    學(xué)校用冷熱沖擊試驗(yàn)箱用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備。

    更新時(shí)間:2025-07-03
    3AP-CJ-80A上下移動(dòng)的溫度沖擊試驗(yàn)箱

    上下移動(dòng)的溫度沖擊試驗(yàn)箱適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備。

    更新時(shí)間:2025-07-03
    3AP-CJ-80A球墨鑄鐵底溫沖擊實(shí)驗(yàn)裝置

    球墨鑄鐵底溫沖擊實(shí)驗(yàn)裝置適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備。

    更新時(shí)間:2025-07-03
    3AP-CJ-150C高溫冷熱沖擊試驗(yàn)設(shè)備

    高溫冷熱沖擊試驗(yàn)設(shè)備適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備。

    更新時(shí)間:2025-07-03
    3AP-CJ-150C408L冷熱沖擊試驗(yàn)箱

    408L冷熱沖擊試驗(yàn)箱適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備。

    更新時(shí)間:2025-07-03
    3AP-CJ-150Csop封裝高低溫沖擊試驗(yàn)箱

    sop封裝高低溫沖擊試驗(yàn)箱適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備。

    更新時(shí)間:2025-07-03
    3AP-CJ-150C冷熱沖擊循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備

    冷熱沖擊循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備。

    更新時(shí)間:2025-07-03
    3AP-CJ-150C超快速冷熱沖擊試驗(yàn)設(shè)備

    超快速冷熱沖擊試驗(yàn)設(shè)備適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備。

    更新時(shí)間:2025-07-03
    3AP-CJ-150C超快速冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)

    超快速冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備。

    更新時(shí)間:2025-07-03
    3AP-CJ-150C高低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)器

    高低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)器適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備。

    更新時(shí)間:2025-07-03
    3AP-CJ-80A節(jié)能型冷熱沖擊試驗(yàn)箱

    節(jié)能型冷熱沖擊試驗(yàn)箱適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備。

    更新時(shí)間:2025-07-03
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